MICROSCOPÍAS ELECTRÓNICAS
Microscopía electrónica de barrido (SEM)
Es un instrumento capaz de ofrecer un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra
Permite la observación y caracterización superficial de sólidos orgánicos e inorgánicos
Presenta una gran profundidad de campo
Le da una apariencia tridimencional a las imágenes
Está equipado por diferentes detectores
Detector de electrones secundarios
Permite obtener imágenes de alta resolución
Detector de electrones retrodispersados
Permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie
Detector de energía dispersa
Permite colectar los rayos x generados por la muestra
Requerimientos que se deben satisfacer
Alta sencibilidad
Alta frecuencia
Amplitud dinámica
Eficiencia
Tamaño físico
características de la cámara
Se pueden realizar estudios de aspectos morfológicos de zonas microscopicas de distintos materiales
Análisis elemental (cualitativo y semicuantitativo)
Su resolución es de 4 a 20 nm dependiendo del microscopio
La preparación de la muestra es relativamente sencilla sus características son:
muestra sólida
conductora
De lo contrario, la muestra puede ser recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal, con la finalidad de darle propiedades conductoras a la muestra
Necesidad de alto vació
Aumentos de hasta 140.000
Referencias
microscopia electrónica de barrido (s.f) servicio de microscopia electrónica. Universidad Politécnica de Valencia
Pineda Aguilar Nayely (s.f) Microscopia electrónica de barrido. Centro de investigación en materiales avanzados S. C. CONACYT.
Renau P. J. & Faura M. (s.f) Principios básicos del microscopio electrónico de barrido. Centro de investigación hospital "la FE" VALENCIA.
Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
Es un instrumento que aprovecha los fenómenos físico-atómicos
Un haz de electrones suficientemente acelerado colisiona con una muestra delgada, convenientemente preparadas, en función de su grosor y del tipo de átomos que la forman parte de estos son dispersados
Puede tener miles de aumentos con una definición inalcanzable para cualquier instrumento
La información que se obtiene es una imagen con distintas intensidades de gris que corresponden al grado de dispersión de los electrones incidentes
Necesidad de alto vació
Imagen en dos dimensiones
Tiene un limite de resolución de 2 nm
Ofrece información sobre la estructura de la muestra, tanto si es amorfa o cristalina
si la muestra es cristalina
Puede ocurrir que varias familias de estos planos cumplan la condición de Bragg
El TEM, tiene una pantalla fluorescente
Emite luz, cuando es impactada por los electrones a gran velocidad
En función del espesor y la composición de la muestra
causa un contraste de amplitud en la imagen
la muestra debe ser muy delgada (menor a 150 nm)
Presenta una mejor resolución que el SEM
Se obtienen imágenes rápidas de alta resolución
Rápida identificación de los elementos presentes en la muestra
Se requieren muestras compatibles con vació
La resolución depende fuertemente de la muestra y su preparación
La muestra no debe tener un material orgánico al menos que se encapsule de manera especial
se pueden usar muestras conductoras y no conductoras
Los patrones de difracción obtenidos pueden ser bien interpretados gracias a la precisión del haz
usos
caracterización de nanoestructuras
Tamaño
Morfología
Composición elemental
características estructurales
Detección de contaminantes
Aplicaciones
Nanopartículas
Nanotubos
Grafenos
catalizadores, entre otros
Referencias
Microscopia electrónica de transmisión (s.f) Servicio de microscopia electrónica. Universidad Politecnica de Valencia
Silva P. H. & Patrón S. A. (s.f) Microscopios electrónicos de transmisión TEM laboratorio nacional de investigaciones en nanociencias y nanotecnología IPICYT
Diego Egas R. (1998) Microscopia electrónica, fundamentos, teoria y aplicaciones. Escuela politécnica Nacional