Microscopía Electrónica de Sonda de Barrido (SPM)
Consiste en una serie de técnicas de microscopía donde una sonda hace un barrido sobre la superficie de una muestra y la o las interacciones sonda-muestra son monitoreadas.
Principales formas de SPM
Microscopio de Tunelaje (STM)
aprovecha el fenómeno de que la corriente de tunelaje entre una muestra conductora y una punta igualmente conductora son dependientes exponencialmente de la separación entre ambas.
Aplicaciones
Imágenes de resolución atómica
STM Electroquímico(ECSTM)
Espectroscopía de Tunelaje (STS
Imágenes a baja corriente de muestras pobremente conductoras
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)
Modo de Contacto
Opera al muestrear una punta sujeta a un extremo de un cantiliver sobre la superficie de una muestra mientras se monitorea la deflexión del cantiliver con un fotodiodo
Ventajas
Es la única técnica de AFM para resolución atómica
Puede analizar muestras muy rugosas
Desventajas
Hay fuerzas laterales que pueden distorsionar la imagen
Puede dañar muestras blandas
Aplicación
Desadsorción de partículas de la muestra
Modo de No-Contacto
Modo Oscilatorio
Aplicación
Minimización en la desadsorción de partículas
Conceptos
Sonda (Tip)
Dispositivo del microscopio que interacciona con la muestra
Controlador piezoeléctrico (Scanner)
Piezoeléctrico que controla la
sonda y/o la muestra
Mecanismo de detección
Dependerá de la técnica
(fotodetector o multímetro)
Circuito electrónico de retroalimentación (feedback)
Capacidad de un emisor para recoger reacciones de los receptores y modificar su mensaje, de acuerdo con lo recogido.
Opera por medio de una punta sujeta al extremo de un cantiliver que oscila sobre la superficie de la muestra
Se hace oscilar a una frecuencia por arriba de su frecuencia de resonancia a una amplitud 10 nm, para obtener una señal de CA.
Ventajas
No ejerce fuerzas sobre la muestra
Desventajas
Limitada resolución lateral
Trabaja sobre muestras hidrofóbicas
Para muestras que adsorben mucho fluido, la unto queda atrapada