MICROSCOPÍAS ELECTRÓNICAS
Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
Diego Egas R. (1998) Microscopia electrónica, fundamentos, teoria y aplicaciones. Escuela politécnica Nacional
Silva P. H. & Patrón S. A. (s.f) Microscopios electrónicos de transmisión TEM laboratorio nacional de investigaciones en nanociencias y nanotecnología IPICYT
Microscopia electrónica de transmisión (s.f) Servicio de microscopia electrónica. Universidad Politecnica de Valencia
Aplicaciones
catalizadores, entre otros
Grafenos
Nanotubos
Nanopartículas
usos
caracterización de nanoestructuras
Detección de contaminantes
características estructurales
Composición elemental
Morfología
Tamaño
Los patrones de difracción obtenidos pueden ser bien interpretados gracias a la precisión del haz
se pueden usar muestras conductoras y no conductoras
La muestra no debe tener un material orgánico al menos que se encapsule de manera especial
La resolución depende fuertemente de la muestra y su preparación
Se requieren muestras compatibles con vació
Rápida identificación de los elementos presentes en la muestra
Se obtienen imágenes rápidas de alta resolución
Presenta una mejor resolución que el SEM
la muestra debe ser muy delgada (menor a 150 nm)
En función del espesor y la composición de la muestra
causa un contraste de amplitud en la imagen
El TEM, tiene una pantalla fluorescente
Emite luz, cuando es impactada por los electrones a gran velocidad
si la muestra es cristalina
Puede ocurrir que varias familias de estos planos cumplan la condición de Bragg
Ofrece información sobre la estructura de la muestra, tanto si es amorfa o cristalina
Tiene un limite de resolución de 2 nm
Imagen en dos dimensiones
La información que se obtiene es una imagen con distintas intensidades de gris que corresponden al grado de dispersión de los electrones incidentes
Puede tener miles de aumentos con una definición inalcanzable para cualquier instrumento
Un haz de electrones suficientemente acelerado colisiona con una muestra delgada, convenientemente preparadas, en función de su grosor y del tipo de átomos que la forman parte de estos son dispersados
Es un instrumento que aprovecha los fenómenos físico-atómicos
Microscopía electrónica de barrido (SEM)
Referencias
Renau P. J. & Faura M. (s.f) Principios básicos del microscopio electrónico de barrido. Centro de investigación hospital "la FE" VALENCIA.
Pineda Aguilar Nayely (s.f) Microscopia electrónica de barrido. Centro de investigación en materiales avanzados S. C. CONACYT.
microscopia electrónica de barrido (s.f) servicio de microscopia electrónica. Universidad Politécnica de Valencia
Aumentos de hasta 140.000
Necesidad de alto vació
La preparación de la muestra es relativamente sencilla sus características son:
conductora
De lo contrario, la muestra puede ser recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal, con la finalidad de darle propiedades conductoras a la muestra
muestra sólida
Su resolución es de 4 a 20 nm dependiendo del microscopio
Se pueden realizar estudios de aspectos morfológicos de zonas microscopicas de distintos materiales
Análisis elemental (cualitativo y semicuantitativo)
Está equipado por diferentes detectores
Requerimientos que se deben satisfacer
características de la cámara
Tamaño físico
Eficiencia
Amplitud dinámica
Alta frecuencia
Alta sencibilidad
Detector de energía dispersa
Permite colectar los rayos x generados por la muestra
Detector de electrones retrodispersados
Permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie
Detector de electrones secundarios
Permite obtener imágenes de alta resolución
Presenta una gran profundidad de campo
Le da una apariencia tridimencional a las imágenes
Permite la observación y caracterización superficial de sólidos orgánicos e inorgánicos
Es un instrumento capaz de ofrecer un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra
