MICROSCOPÍAS ELECTRÓNICAS

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MICROSCOPÍAS ELECTRÓNICAS

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Diego Egas R. (1998) Microscopia electrónica, fundamentos, teoria y aplicaciones. Escuela politécnica Nacional

Silva P. H. & Patrón S. A. (s.f) Microscopios electrónicos de transmisión TEM laboratorio nacional de investigaciones en nanociencias y nanotecnología IPICYT

Microscopia electrónica de transmisión (s.f) Servicio de microscopia electrónica. Universidad Politecnica de Valencia

Aplicaciones

catalizadores, entre otros

Grafenos

Nanotubos

Nanopartículas

usos

caracterización de nanoestructuras

Detección de contaminantes

características estructurales

Composición elemental

Morfología

Tamaño

Los patrones de difracción obtenidos pueden ser bien interpretados gracias a la precisión del haz

se pueden usar muestras conductoras y no conductoras

La muestra no debe tener un material orgánico al menos que se encapsule de manera especial

La resolución depende fuertemente de la muestra y su preparación

Se requieren muestras compatibles con vació

Rápida identificación de los elementos presentes en la muestra

Se obtienen imágenes rápidas de alta resolución

Presenta una mejor resolución que el SEM

la muestra debe ser muy delgada (menor a 150 nm)

En función del espesor y la composición de la muestra

causa un contraste de amplitud en la imagen

El TEM, tiene una pantalla fluorescente

Emite luz, cuando es impactada por los electrones a gran velocidad

si la muestra es cristalina

Puede ocurrir que varias familias de estos planos cumplan la condición de Bragg

Ofrece información sobre la estructura de la muestra, tanto si es amorfa o cristalina

Tiene un limite de resolución de 2 nm

Imagen en dos dimensiones

La información que se obtiene es una imagen con distintas intensidades de gris que corresponden al grado de dispersión de los electrones incidentes

Puede tener miles de aumentos con una definición inalcanzable para cualquier instrumento

Un haz de electrones suficientemente acelerado colisiona con una muestra delgada, convenientemente preparadas, en función de su grosor y del tipo de átomos que la forman parte de estos son dispersados

Es un instrumento que aprovecha los fenómenos físico-atómicos

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Referencias

Renau P. J. & Faura M. (s.f) Principios básicos del microscopio electrónico de barrido. Centro de investigación hospital "la FE" VALENCIA.

Pineda Aguilar Nayely (s.f) Microscopia electrónica de barrido. Centro de investigación en materiales avanzados S. C. CONACYT.

microscopia electrónica de barrido (s.f) servicio de microscopia electrónica. Universidad Politécnica de Valencia

Aumentos de hasta 140.000

Necesidad de alto vació

La preparación de la muestra es relativamente sencilla sus características son:

conductora

De lo contrario, la muestra puede ser recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal, con la finalidad de darle propiedades conductoras a la muestra

muestra sólida

Su resolución es de 4 a 20 nm dependiendo del microscopio

Se pueden realizar estudios de aspectos morfológicos de zonas microscopicas de distintos materiales

Análisis elemental (cualitativo y semicuantitativo)

Está equipado por diferentes detectores

Requerimientos que se deben satisfacer

características de la cámara

Tamaño físico

Eficiencia

Amplitud dinámica

Alta frecuencia

Alta sencibilidad

Detector de energía dispersa

Permite colectar los rayos x generados por la muestra

Detector de electrones retrodispersados

Permite la obtención de imágenes de composición y topografía de la superficie

Detector de electrones secundarios

Permite obtener imágenes de alta resolución

Presenta una gran profundidad de campo

Le da una apariencia tridimencional a las imágenes

Permite la observación y caracterización superficial de sólidos orgánicos e inorgánicos

Es un instrumento capaz de ofrecer un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra