av Andrea De Los Reyes M för 1 år sedan
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Tomografía EFTEM
Espectroscopia EELS y Rayos X
Morfología, composición elemental
Contraste de muestras: grosor de materias (materiales amorfos)
Resolución
Ondas electromagneticas
Termoionico
Emisión de campo
Esta menor a 150nm, altera varias propiedades físicas del haz
Son recopiladas por detectores
Detectores: Amplio ángulo HAADF,CCD de alta velocidad y GIF
Baja energía
Proporcionan información topográfica
Retro dispersados
Electrón de haz choca frontalmente con el núcleo del átomo.
Mapa de información sobre composición superficial.
Intensidad del efecto varia proporcionalmente con el no atómico.
Determinación elemental de los contaminantes
Análisis de falla de materiales
500,000 X de mag y 1NM de res
Análisis de fases cristalinas
Transiciones de fases en los materiales
Composición de superficie
Tamaño de grano
Al ilumina la muestra, diferentes detectores se recogen
Los electrones que genera interactúan con la superficie