Microscopia Electrónica

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Microscopia Electrónica

De Transmisión

Técnicas

Difracción con electrones (mono cristales)

Tomografía EFTEM

Espectroscopia EELS y Rayos X

Usos

Nanoestructura

Morfología, composición elemental

Contraste de muestras: grosor de materias (materiales amorfos)

Resolución

Ondas electromagneticas

Termoionico

Emisión de campo

Función

Haz de electrones de alta energía (300kew) atraviesa una muestra delgada

Esta menor a 150nm, altera varias propiedades físicas del haz

Son recopiladas por detectores

Detectores: Amplio ángulo HAADF,CCD de alta velocidad y GIF

Instrumento que aprovecha los fenómenos fisico-atomicos

De Barrido

Aplicación

Electrones Secundarios

Baja energía

Proporcionan información topográfica

Retro dispersados

Electrón de haz choca frontalmente con el núcleo del átomo.

Mapa de información sobre composición superficial.

Intensidad del efecto varia proporcionalmente con el no atómico.

Determinación de tamaño de partícula

Determinación elemental de los contaminantes

Análisis de falla de materiales

500,000 X de mag y 1NM de res

Uso

Caracterización microscópica de materiales

Análisis de fases cristalinas

Transiciones de fases en los materiales

Composición de superficie

Tamaño de grano

Funcion

El filamento genera un haz de electrones

Al ilumina la muestra, diferentes detectores se recogen

Los electrones que genera interactúan con la superficie

¿Qué es?

Los electrones sobre una superficie conectora emiten una señal